间歇性ICT测试故障来自PCB装配线上的磨损Pogo针

问题出现在一个小型电子产品制造的末端。生产线运行正常，但我们的首次通过率在ICT开始下降，仅限于一块电路板。故障看起来是随机的：一个连接器针脚开路，接着在测试垫附近出现虚假短路，然后下一个电路板会通过。AOI看起来很干净，回流曲线稳定，相同的电路板在重新安装到夹具后会通过。这让人很容易责怪操作员，但故障模式不像是由于处理损伤造成的。 我根据夹具ID而不是仅查看电路板序列号来提取测试日志。故障并没有分布在所有站点。它们主要集中在一个夹具上，故障的网络都靠近电路板的同一个角落。我们运行了三次金板，看到了一条边界读数，这足以停止生产线进行夹具检查。我还检查了是否有不良单元共享相同的面板位置，因为弯曲的面板或不良的去板化可以产生非常相似的故障。 解决方案很基本，但它节省了很多返工。我们清洁了夹具板，检查了探针行程，发现了几个磨损的Pogo针，弹簧力较弱。一个针从上面看起来很好，但被按下时会卡住…